Univerzita Karlova v Praze žádá o rychlou nabídku na nákup FIB-SEM-AFM mikroskopu!
Podrobný popis:
- předmětem veřejné zakázky je nákup FIB-SEM-AFM mikroskopu
- Rastrovací elektronový mikroskop s polem buzenou katodou (FEG) s příslušenstvím, včetně iontově-optického systému pro in-situ krájení, leštění a transfer vzorků (FIB) a mikroskopu atomárních sil typu AFM pro in-situ korelační měření